以下是近紅外全波段分光光度計操作的詳細技巧：
一、開機前準備
1.環(huán)境檢查
確保儀器放置在穩(wěn)定、平整的實驗臺上，避免震動和晃動。儀器周圍環(huán)境應保持清潔，無灰塵、腐蝕性氣體和強電磁干擾。溫度和濕度應符合儀器的使用要求，一般溫度控制在15 - 30℃，相對濕度在45% - 75%。
檢查電源電壓是否符合儀器規(guī)定的范圍，一般波動范圍應在額定電壓的±10%以內。
2.樣品準備
根據(jù)分析目的，準備好合適的樣品。樣品應該是均勻的，對于固體樣品，可能需要研磨、過篩等預處理；對于液體樣品，要確保其澄清透明，無氣泡和雜質。如果是進行定量分析，還需要準備一系列濃度已知的標準樣品。
1.開啟儀器
打開分光光度計的電源開關，等待儀器自檢完成。在自檢過程中，不要進行任何操作，以免影響儀器的正常啟動。
2.初始化設置
儀器自檢完成后，進入初始化設置界面。根據(jù)測試需求，選擇合適的測量模式，如透射、反射或漫反射模式。對于不同的樣品類型，一般固體樣品多采用反射或漫反射模式，液體樣品采用透射模式。
設置掃描范圍，全波段分光光度計的波長范圍一般在幾百納米到幾千納米之間。如果只關注特定的波段，可以縮小掃描范圍以提高分辨率和檢測速度；但如果對樣品的全波段信息有需求，則應選擇全波段掃描。
調整光譜帶寬，較窄的光譜帶寬可以提高分辨率，但會降低信號強度；較寬的光譜帶寬則相反。通常需要根據(jù)樣品的性質和分析要求來選擇合適的光譜帶寬。
三、 baseline（基線）校正
1.選擇基線校正方式
一般有空氣作為參比的基線校正和以空白樣品（如空白溶液、空白固體基質等）作為參比的基線校正。如果樣品是液體，且溶劑在近紅外區(qū)域吸收較弱，可以選擇空氣作為參比；如果樣品是固體或者溶劑在近紅外區(qū)域有吸收干擾，最好使用空白樣品進行基線校正。
2.進行基線校正操作
將參比樣品（空氣或空白樣品）置于測量光路中，按照儀器的操作按鈕或軟件提示，啟動基線校正程序。在基線校正過程中，要確保樣品艙（或測量光路）密封良好，沒有漏光或外界光線干擾。等待基線校正完成后，儀器會顯示一條平滑的基線，此時基線校正成功。
四、樣品測量
1.液體樣品測量
對于透射模式下的液體樣品測量，將裝有待測液體的比色皿放入樣品槽中。比色皿的光徑長度要根據(jù)樣品的濃度和吸光度范圍選擇合適的規(guī)格，一般有0.5mm、1mm、2mm等多種規(guī)格可供選擇。
注意比色皿的清潔，在使用前要用待測液體沖洗比色皿2 - 3次，以避免殘留的其他物質對測量結果產生干擾。將比色皿正確放置在樣品槽后，關閉樣品倉蓋，在軟件中選擇測量選項，儀器就會開始對液體樣品進行光譜掃描和吸光度測量。
2.固體樣品測量
在反射或漫反射模式下測量固體樣品時，要將固體樣品均勻地填充在樣品杯或樣品架上。對于粉末狀樣品，要保證樣品表面平整；對于片狀或塊狀樣品，要確保樣品的表面光潔度符合要求。
將裝有固體樣品的樣品杯或樣品架放置在測量位置，調整好測量光路。有些儀器可能還需要設置樣品的折射率、厚度等參數(shù)（如果儀器有相關功能），然后啟動測量程序。
五、近紅外全波段分光光度計數(shù)據(jù)處理與分析
1.光譜數(shù)據(jù)查看
測量完成后，儀器會顯示樣品的近紅外光譜圖。仔細觀察光譜圖，檢查是否有異常的峰值或噪聲。如果發(fā)現(xiàn)光譜圖中有明顯的異常，可能是樣品制備有問題、測量條件不合適或者儀器故障等原因導致的，需要重新檢查和測量。
2.數(shù)據(jù)分析方法
定性分析：通過比較樣品光譜與已知標準物質光譜的特征峰位置、形狀和強度等，來判斷樣品的成分或類別。例如，不同品牌的食用油在近紅外光譜的某些波段會有特征吸收峰，通過對比這些特征峰可以區(qū)分油的種類。
定量分析：如果進行了標準樣品的測量，可以利用化學計量學方法建立定量分析模型。常見的方法有線性回歸、主成分回歸（PCR）和偏最小二乘法（PLS）等。以PLS為例，通過對標準樣品的光譜數(shù)據(jù)和濃度數(shù)據(jù)進行建模，得到一個數(shù)學模型，然后將未知樣品的光譜數(shù)據(jù)代入模型，就可以計算出未知樣品的濃度。
六、儀器維護與關機
1.儀器維護
測量完成后，要及時清理樣品艙和比色皿（如果有使用）。對于液體樣品殘留，要用適當?shù)娜軇┣逑锤蓛?；對于固體樣品殘留，要用軟毛刷或壓縮空氣清除干凈。
定期對儀器進行校準和維護，包括波長校準、吸光度校準等。一般建議按照儀器的使用手冊規(guī)定的周期進行校準，以保證儀器測量的準確性。
2.關機操作
在關機前，要先退出測量軟件，然后關閉儀器的電源開關。如果是連接了計算機的分光光度計，還要先關閉與儀器相連的計算機軟件和設備，再關閉儀器電源，以避免數(shù)據(jù)丟失或儀器損壞。
